Informacje o publikacji
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Kliknij by powiększyć zdjęcie

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanis... czytaj więcej

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

Adamczak Stanisław
Dostępność:
Publikacja dostępna
99.00 / 1egz.
In stock
Podtytuł:
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
Język publikacji:
polski
Wydanie:
1
Liczba stron:
436
Oprawa:
Miękka
ISBN/ISSN:
9788301231583
Producent:
Wydawnictwo Naukowe PWN S.A., ul. Gottlieba Daimlera 2, 02-460 Warszawa (PL), tel. 22 695 43 21, email: recepcja@pwn.pl
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Zobacz również
pixel